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          開爾文探針

         開爾文探針

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

        開爾文探針的特點

        在半導體和導電樣品中全新技術的開爾文探針

        環境空氣條件下測試(具有不同溫度、濕度真空監測)

        具有非常高的精度和準確度

        信號非常穩定

        可實現遠程技術服務支持

         

         

         

         

        應用

           CPD測量(頂尖參考標準的功函數)             (通過黃金網紋的可見光)

           表面光電壓測量(兼容同品牌的照射器與單色器模塊)

           腐蝕測量

           吸附/解吸和表面電壓的研究    

           活性催化的研究

         

         

         

        開爾文探針技術規格:

        電壓范圍:-5V5V

        數據采集:16-bit ADC module

        測試精度:0.1mev                               (靜電屏蔽環境干擾的保護)

        樣品架:X-Y stage

        Z 端:  5um resolution laser positioning

        金網:  (Φ 2 mm mesh) – light „see through”

         

         

         

        軟件部分:

         

               
           
         
         

         

         

         

         

         

         

         

         

        (銳鈦礦在黑暗中的腐蝕性)                           CPD值的鑒定

                                                           黃金網紋和樣品在不同距離

                                                            非常明顯的5 pA的寄生電流

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

                                                          光照下的銳鈦礦在黑暗中的腐蝕


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