正電子湮沒壽命譜儀

1. 簡介

正電子壽命應用于材料科學領域中半導體材料類缺陷的測試。這是一套測量設備和電源一體化的正電子壽命測試系統。

2.技術特征

在壽命測試中，使用3GSPS來測算壽命時間，這是由兩種BaF2 的閃爍體產生的高速脈沖信號所導入的。在多普勒寬譜（CDB）中，二維的柱圖是由兩個鍺半導體探測器的波高分布特征值所計算出的。此外，這套測試設備也可以用AMOC模式來測試相關材料的壽命時間及電子動量密度分布

3.技術原理

時間分析光譜計、DSP多通道分析模塊、前置放大器電源模塊、高壓電源模塊、供電支架、BaF2閃爍體探測器、Ge半導體探測器、計算機PC、交換中心（每個模塊PC和局域網電纜連接）

4.應用案例

四川大學

中科院高能物理研究所

日本各大高校研究所

5.規格參數